在数据爆炸式增长的当下,传统存储技术已经难以满足需求,而垂直堆叠的3D NAND闪存技术正在悄然改变游戏规则。

2025年国际固态电路会议上,铠侠与闪迪联合发布了新一代3D闪存技术,实现了业界领先的4.8Gb/s NAND接口速度,同时显著提升了能效表现-1

随着存储层数从当前主流的300层向332层迈进,未来单片存储容量预计将比现有产品提升59%,而功耗则大幅降低,输入和输出功耗分别减少10%和34%-3


01 技术演进

闪存存储技术正面临二维平面扩展的物理极限。在过去几十年里,NAND闪存通过缩小晶体管尺寸实现了存储密度的持续提升,但随着工艺节点逼近物理极限,这种横向扩展模式已难以为继。

当平面NAND闪存的微缩遇到瓶颈时,半导体行业将目光投向了第三个维度,这就是3D NAND闪存集成技术兴起的背景-4

从平面到立体的转变不仅仅是技术方向的调整,更是存储密度提升的根本性突破。早期3D NAND技术如BiCS FLASH通过垂直堆叠存储单元,成功绕过了平面微缩的障碍,开创了存储技术的新纪元。

在3D NAND的发展道路上,存储单元层数的增加成为衡量技术进步的关键指标。从最初的24层到目前普遍量产的200-300层,层数增长直接带来了存储容量的指数级提升。

如今,第八代BiCS FLASH技术已经能够实现单个封装内堆叠32个Die,打造出8TB容量的存储芯片,而多芯片组合更能构建高达256TB的企业级SSD-4

02 性能飞跃

铠侠与闪迪的联合技术突破标志着3D NAND闪存集成迈入了全新阶段。这项新技术在ISSCC 2025上亮相,采用了革命性的CBA技术,能够将新的CMOS技术与现有存储单元技术相结合-2

CBA技术的核心创新在于将CMOS外围电路和存储阵列分开制造,然后通过直接键合的方式集成在一起。这种分离制造再整合的工艺使得两者都能在各自优化的环境中制造,突破了传统单一晶圆制造的局限。

除了CBA架构,这项技术还采用了最新的Toggle DDR6.0 NAND闪存接口标准,并利用SCA协议和PI-LTT技术进一步降低功耗-1。这些技术的综合应用,使得NAND接口速度较第八代产品提升了33%,达到了4.8Gb/s。

在能效方面,技术创新同样引人注目。通过优化数据输入/输出过程,新技术使输入功耗降低了10%,输出功耗降低了34%,在追求高性能的同时,也兼顾了低功耗的需求-2

03 核心突破

这项3D NAND闪存集成的突破性进展建立在多项关键技术之上。CBA技术允许存储单元和CMOS逻辑电路分开制造,这不仅提高了制造效率,还让两种电路都能采用最适合各自特性的工艺-4

Toggle DDR6.0接口标准的引入为高速数据传输奠定了基础。结合独立的命令地址协议,这种接口设计减少了数据输入/输出的时间延迟,使接口速度得到显著提升-3

在功耗管理方面,PI-LTT技术的应用功不可没。该技术采用现有的1.2V电源和额外的较低电压电源,专门为NAND接口供电,从而在数据传输期间降低功耗-3

存储层数的增加也是实现高密度的关键。第十代BiCS FLASH将存储层数提升至332层,并通过优化晶圆平面布局提高了平面密度,最终使比特密度提高了59%-5

04 行业应用

随着人工智能技术的普及,全球产生的数据量呈指数级增长。现代数据中心对能效提升的需求与日俱增,而新一代3D NAND闪存集成技术恰好能够满足这一需求-2

铠侠首席技术官宫岛英史指出,这项新技术将实现更大容量、更高速度和更低功耗的产品,包括用于未来存储解决方案的SSD,为AI发展奠定基础-2

在AI训练和推理领域,高速大容量的存储解决方案能够显著减少数据访问延迟,提高整体计算效率。尤其是在生成式AI应用中,模型参数数量庞大,对存储系统的带宽和容量提出了极高要求。

数据中心领域,高性能、高密度的存储解决方案有助于降低总体拥有成本。通过提高单机架存储密度,企业能够在有限的空间内部署更多存储资源,同时减少能源消耗和散热需求-4

边缘计算和移动设备同样受益于3D NAND闪存集成的进步。随着层数增加和接口速度提升,移动设备能够在不增加体积的前提下获得更大存储容量,同时保持低功耗特性。

05 未来架构

行业研究机构imec预测,到2030年,一种全新的沟槽单元架构有望成为下一代3D NAND闪存的主流。这种架构将改变目前主流的环栅结构,在沟槽侧壁形成平面配置的存储单元-9

沟槽架构的最大优势在于显著提高存储密度。据imec估计,相比现有的环栅结构,沟槽架构能够实现三倍以上的单元密度提升,使比特存储密度远远超过100Gb/mm²-9

三星也在探索将3D晶体管技术应用于闪存芯片。与传统的2D平面晶体管相比,3D晶体管能够提供更好的信号传输速度、更低的功耗和更小的尺寸-8

韩国汉阳大学的研究团队则开发了一种新型混合通道结构,在Poly-Si与氧化物半导体通道之间插入超薄膜界面层。这种结构将Poly-Si界面损耗从5nm降至1.7nm,显著提升了单元电流密度与电子迁移率-6


当数据中心机架里的固态硬盘容量突破256TB大关时,存储芯片内部的332层立体迷宫正在以4.8Gb/s的速度传输海量数据。CBA技术像精密的乐高积木,将存储单元与外围电路分开优化再完美结合。

未来沟槽架构的存储密度可能是现在的三倍以上,三星的3D晶体管技术正准备将闪存芯片带入新维度。那位汉阳大学教授手中电子迁移率超过100cm²/V·s的混合通道材料,正在实验室里重塑存储器的物理极限。

技术进步永无止境,而存储世界的立体革命才刚刚开始。